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控制HAST高压试验箱 非饱和高湿老化的生产厂家，天美麻花星空mv免费播放乡村版拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产物的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产物。

产物概述
HT-HAST-800 高压加速寿命试验箱（HAST）是一款专为电子元器件、半导体集成电路、光伏模块及材料等产物进行高加速、高应力可靠性测试而设计的专业设备。其采用非饱和蒸汽加压技术，可在高温、高湿、高压环境下，大幅缩短产物寿命评估周期，是进行可靠性筛选、失效分析及质量验证的关键工具。设备遵循严谨的工艺标准，确保测试数据在地球范围内的广泛认可。

核心技术参数

• 温度范围：+105℃ ~ +155℃（可选）

• 常用测试温度：110℃, 130℃, 145℃

• 湿度范围：50% ~ 95% RH（非饱和，可调）

• *部分型号支持65%-100%搁贬，可设定饱和模式*

• 压力范围：0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表压）

• *约合0.2至6办驳/肠尘?，满足不同标准要求*

• 控制精度：温度: ±0.5℃; 湿度: ±2.5% ~ ±3% RH

• 确保测试条件的严苛稳定性和出色复现性

• 控制模式：支持干湿球控制、非饱和蒸汽、饱和蒸汽叁种工作模式，适应多样化的测试方案需求。

遵循的核心标准
我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准，确保您的测试数据在地球范围内获得广泛认可：

• 国际电工委员会 (IEC)：

• IEC 60068-2-66 (试验Cx: 稳态湿热)

• IEC 60749 (半导体器件机械和气候试验方法)

• 固态技术协会 (JEDEC)：

• JESD22-A110 (高加速温度和湿度应力测试 - HAST)

• JESD22-A118 (无偏压高加速温度和湿度应力测试 - UHAST)

• JESD22-A102 (高压蒸煮试验 - PCT)

• 国家标准 (GB)：

• GB/T 2423.40 (环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx: 稳态湿热)

• 汽车电子领域 (AEC)：

• AEC-Q100 (基于集成电路应力测试的失效机理)

• AEC-Q101 (分立半导体器件应力测试资质)

• 行业评价方法：

• 支持如《复杂组件封装关键结构寿命评价方法》（T/CIE 143-2022）等标准中提及的加速寿命试验要求。

应用价值
HT-HAST-800 通过精确模拟并加速严苛环境下的温湿压条件，有效激发潜在缺陷，帮助用户快速评估产物的长期可靠性、材料稳定性及封装完整性，广泛应用于研发、品控及认证环节，为产物质量提升提供强力保障。

控制HAST高压试验箱 非饱和高湿老化

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