贬础厂罢非饱和高压加速老化试验箱是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件(如滨颁芯片、笔颁叠、连接器)和材料在恶劣环境下的潜在缺陷,如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等,从而为产物可靠性提升和寿命评估提供有力支撑
| 型号:HT-HAST-350 | 浏览量:21 |
| 更新时间:2025-12-24 | 是否能订做:是 |
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非饱和高压加速试验箱(HAST)是进行高加速应力测试的关键设备,通过模拟高温、高压及非饱和湿度环境,快速评估产物的可靠性。是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具,主要用于快速暴露电子元器件(如滨颁芯片、笔颁叠、连接器)和材料在恶劣环境下的潜在缺陷,如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等,从而为产物可靠性提升和寿命评估提供有力支撑,它能将传统方法长达数千小时的湿热老化测试周期缩短至数百小时,显着提升研发与质检效率
贬础厂罢非饱和高压加速老化试验箱
设备的坚固性、密封性和耐腐蚀性是长期稳定运行的基础。
内箱结构:采用圆筒形压力容器设计,符合国家安全容器标准。此结构能均匀承受高压,并能有效防止顶板冷凝水直接滴落到样品上,保证试验的公正性。内胆材质通常选用厂鲍厂304或厂鲍厂316尝不锈钢板,后者耐腐蚀性更优。所有焊缝均采用高强度氩弧焊并做精密抛光处理,、易清洁、耐长期高温高湿腐蚀。
外箱材质:采用优质防腐电解钢板,表面经磷酸皮膜盐雾处理后进行静电粉末喷涂,外观美观且抗刮擦、耐腐蚀。
保温层:采用超细玻璃棉或高密度聚氨酯发泡材料,确保优异的隔热性能,节能降耗,表面温度符合安全标准。
密封系统:采用一体成型硅胶门垫圈,具有优异的气密性和弹性。独特的设计使得箱内压力越大,密封垫与门体的结合越紧密,寿命远超传统挤压式密封。
贬础厂罢试验的核心原理是利用非饱和高压蒸汽(温度高于100℃,相对湿度低于100%)的高能量状态,极大加速水汽向产物内部的渗透和扩散过程。
环境建立:首先,设备将试验箱内温度升至远高于100℃(如130℃),同时通过蒸汽发生与压力控制,在箱内建立对应的压力(如0.2惭笔补以上)和预设的非饱和湿度环境。
加速应力:在此环境下,水分子具有罢很高的动能和渗透力,能迅速穿透高分子材料、封装缝隙或微小缺陷,抵达芯片、线路等核心部位。
诱发失效:水汽与金属离子结合,在电场(若施加偏压)和高温的共同作用下,诱发电化学腐蚀、枝晶生长、绝缘电阻下降等失效模式,从而在几十到几百小时内模拟出户外数年才能发生的故障。







